EDX 800 to efekt wieloletniego doświadczenia firmy SkyRay w projektowaniu urządzeń do analiz stopów i produktów z metali szlachetnych. Posiada ergonomiczny wygląd, przyjazny użytkownikowi interfejs i profesjonalne oprogramowanie sprawiające, że analizy pierwiastkowe w przemyśle jubilerskim stają się proste i szybkie.
EDX800 posiada wydajny i praktyczny licznik proporcjonalny zapewniający dokładne pomiary składu stopów jubilerskich przy zachowaniu niskich kosztów zakupu i eksploatacji. Wykonany jest w trwałych materiałów i ma ciekawy i praktyczny wygląd.
Cechy produktu:
Specyfikacja techniczna EDX 800: |
|
Model: |
EDX 800, spektrometr EDXRF do analiz metali i powłok jubilerskich. |
Detektor: |
Licznik proporcjonalny, kolimator 1.5 mm do pomiarów małych powierzchni. |
Źródło wzbudzenia: |
lampa X-ray, dolne źródło promieniowania. |
Prąd lampy: |
50-1000 µA. |
Napięcie lampy: |
5-50 kV. |
Czas analizy: |
60-200 s. |
Mierzone pierwiastki: |
Standardowo Au, Ag, Pt, Pd, Cu. Dodatkowe po uzgodnieniach z producentem. |
Stabilność pomiaru: |
+/- 0,1%(zawartość głównego składnika ponad 96%). |
Formy próbek: |
Ciała stałe, proszki, ciecze. |
Pozycjonowanie próby: |
Celownik laserowy, kamera CCD, dodatkowe uchwyty dla próbek małych i nieregularnych. |
Zasilanie: |
220 VAC +/- 5V (zalecane źródło stabilizowane). |
Temperatura robocza: |
+5 °C to + 30 °C. |
Wilgotność robocza: |
≤70%. |
Wymiary komory: |
360x370x416mm. |
Konfiguracja standardowa: |
Komora pomiarowa, celownik laserowy, licznik proporcjonalny, lampa x-ray 50W, obwód detekcji sygnału, zestaw uchwytów. |
Zastrzegamy możliwość zmian specyfikacji bez uprzedniej informacji. Zastosowania:
Wymagania systemowe: Komputer wyposażony w system Windows 32 bity. |
* Ilość urządzeń w promocji jest ograniczona.