Spektrometry serii XAN 215 ze względu na swoja konstrukcję i oprogramowanie przeznaczone są przede wszystkim dla jubilerów i złotników, zajmujących się skupem wyrobów jubilerskich i jednocześnie wykonujących powłoki złote, srebrne, rodowe czy palladowe na tychże wyrobach. Urządzenie umożliwia nie tylko badanie składu złota ale również badanie grubości powłok wielowarstwowych oraz składu kąpieli galwanicznych.

Cechy produktu:

• urządzenie przeznaczone do badania składu złota i metali szlachetnych
• badanie grubości powłok w przemyśle jubilerskim i złotniczym
• zoptymalizowany pod kątem analizy stopów złotniczych
• odpowiedni do zastosowań w skupach złota i lombardach

Oprogramowanie WinFTM®

Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych. Polska wersja językowa.

Programy pomiarowe:

1. Gold global - analiza następujących pierwiastków: Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Sn, Pb, Fe, Cr, Ni, Mo, Co, Rh, Ru, In, Ir, W, Bi,Mn, Ga, Cd - fabrycznie kalibrowane na 14 wzorcach (możliwość kalibracji na własnych wzorcach)
2. Silver alloys - analiza następujących pierwiastków: Ag, Cu, Zn, Cd, Sn, Ni, Au, Pb, In
3. Rh/Jewelry - badanie grubości powłoki rodowej i analiza składu pierwiastkowego pod nią (Au, Ag, Pd, Cu, Zn, Ni)
4. Gold Coating - badanie grubości powłoki złotek i analiza składu pierwiastkowego pod nią (Ag, Pd, Ni, Cu, Zn, Sn, Fe,Ci, Mo, W, Cd)